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產(chǎn)品資料

X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀

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產(chǎn)品名稱(chēng): X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀
產(chǎn)品型號(hào): 德國(guó)FISCHER XAN500
產(chǎn)品展商: 其它品牌
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔

簡(jiǎn)單介紹

德國(guó)FISCHER XAN500 X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀可準(zhǔn)確的確定鍍層厚度,適合在生產(chǎn)線上檢查大型零件(如飛機(jī)零件,管道或渦輪葉片)上的鍍層。


X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀  的詳細(xì)介紹
埃登威自動(dòng)化-專(zhuān)業(yè)進(jìn)口儀器供應(yīng)商!我們提供豐富的儀器儀表種類(lèi)、有競(jìng)爭(zhēng)力的產(chǎn)品價(jià)格及良好的售后服務(wù)。

德國(guó)FISCHER XAN500 X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀可準(zhǔn)確的確定鍍層厚度,適合在生產(chǎn)線上檢查大型零件(如飛機(jī)零件,管道或渦輪葉片)上的鍍層。


德國(guó)FISCHER XAN500 X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

德國(guó)FISCHER XAN500 X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀作為一款手持式XRF分析儀,它非常適合在生產(chǎn)線上檢查大型零件(如飛機(jī)零件,管道或渦輪葉片)上的鍍層;與市場(chǎng)上其他便攜式X射線熒光設(shè)備相比,F(xiàn)ISCHERSCOPE XAN500可以準(zhǔn)確地確定鍍層厚度。它的三點(diǎn)支撐設(shè)計(jì)使其易于正確放置,并在整個(gè)測(cè)量過(guò)程中保持穩(wěn)定。高質(zhì)量的硅漂移檢測(cè)器(SDD)確保了分析合金層(如鋅鎳合金)所需的精度。

但是,XAN 500不僅僅是一個(gè)用于大型零件的測(cè)量系統(tǒng)。借助可選的測(cè)量箱,只需幾個(gè)簡(jiǎn)單的步驟即可將其轉(zhuǎn)換為臺(tái)式儀器。 這樣您就可以快速、輕松地檢查小零件,如螺母和螺栓。

德國(guó)FISCHER XAN500 X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品特點(diǎn):

通用手持式X射線熒光分析儀,即使材料組合困難復(fù)雜的情況下,也可以進(jìn)行準(zhǔn)確的鍍層厚度測(cè)量和材料分析;符合DIN ISO 3497和ASTM B568標(biāo)準(zhǔn)。

重量1.9 kg

一次電池充電可持續(xù)運(yùn)行6個(gè)小時(shí)

測(cè)量點(diǎn):3毫米?

高分辨率硅漂移檢測(cè)器

用于戶外的IP54等級(jí)

用作臺(tái)式設(shè)備的可選測(cè)量箱;

使用完整版WinFTM®軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)


德國(guó)FISCHER XAN500 X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品應(yīng)用:

測(cè)試大型樣件,裝配測(cè)量箱后也可以測(cè)試小樣件

一次測(cè)試同時(shí)測(cè)定鍍層的厚度和成分(例如,F(xiàn)e上的ZnNi合金)

未知合金的無(wú)標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量

大型鍍層零件(例如機(jī)器部件和外殼)的測(cè)量

電鍍層的測(cè)試

電鍍液金屬含量的分析



我們會(huì)努力按照原廠技術(shù)參數(shù)翻譯編輯,如技術(shù)參數(shù)中英文有差異,以英文參數(shù)為準(zhǔn)。

德國(guó)FISCHER XAN500 X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù):

1、環(huán)境要求:

使用時(shí)溫度:10℃- 40℃

存儲(chǔ)或運(yùn)輸溫度:0℃- 50℃

空氣相對(duì)濕度:≤95%,無(wú)結(jié)露

2、計(jì)算單元:

計(jì)算機(jī):Windows操作系統(tǒng)的平板電腦

軟件:標(biāo)準(zhǔn):Fischer WinFTM BASIC包含PDM、可選:Fischer WinFTM SUPER

3、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):

CE合格標(biāo)準(zhǔn):EN 61010

X射線標(biāo)準(zhǔn):DIN ISO 3497和ASTM B 568

型式批準(zhǔn):每臺(tái)儀器都符合德國(guó)“Deutsche RontgenverordnungRaV”法規(guī)規(guī)定

4、通用規(guī)格:

設(shè)計(jì)用途:能量色散型X射線鍍層測(cè)厚及材料分析儀,用來(lái)進(jìn)行鍍層測(cè)厚及材料分析。

元素范圍:從元素硫(16)到鈾(92)可同時(shí)測(cè)定24種元素。

形式設(shè)計(jì):手持式儀器

測(cè)量方向:可變化的

5、X射線源:

X射線管:帶鍍窗口的鎢靶射線管

高壓,電流,功率:高壓范圍40kV、陽(yáng)極電流范圍10OuA、一般功率2W,范圍4W內(nèi)

孔徑(準(zhǔn)直器):2mm

測(cè)量點(diǎn)尺寸:3mm

6、X射線探測(cè):

X射線探測(cè)器:采用珀耳帖法冷卻的硅漂移接收器(SDD)

能量分辨率:≤160ev

(Mn元素K 半高寬)

7、樣品定位:

樣品放置:手動(dòng)

8、電氣參數(shù):

電池充電器:AC115-230V 50/60Hz

可充電電池:鋰離子電池7.2V/6.2Ah

電池的使用時(shí)間:大約6小時(shí)

功率:范圍20w

保護(hù)等級(jí):IP54

9、尺寸規(guī)格:

外部尺寸(寬×深×高):儀器:210 x 230 x75 mm、運(yùn)輸箱:630x 485x 225 mm

重量:儀器:大約1.9 kg、包含運(yùn)輸箱,可充電電池和平板電腦:大約11.5 kg


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