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產(chǎn)品資料

美國Tektronix(泰克) BSA175C誤碼率測試儀

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產(chǎn)品名稱: 美國Tektronix(泰克) BSA175C誤碼率測試儀
產(chǎn)品型號:
產(chǎn)品展商: 其它品牌
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

簡單介紹

美國Tektronix(泰克) BSA175C誤碼率測試儀為測量串行數(shù)據(jù)系統(tǒng)的信號完整性提供了全新的方式。


美國Tektronix(泰克) BSA175C誤碼率測試儀  的詳細介紹
埃登威自動化-專業(yè)進口儀器供應(yīng)商!我們提供豐富的儀器儀表種類、有競爭力的產(chǎn)品價格及良好的售后服務(wù)。

美國Tektronix(泰克) BSA175C誤碼率測試儀為測量串行數(shù)據(jù)系統(tǒng)的信號完整性提供了全新的方式。


美國Tektronix(泰克) BSA175C誤碼率測試儀產(chǎn)品簡介:
?BERTScope?誤碼率測試儀系列為測量串行數(shù)據(jù)系統(tǒng)的信號完整性提供了全新的方式
?將眼圖分析與BER碼型生成結(jié)合起來,使誤碼率檢測更快、更準確、更**
?BERTScope?誤碼率測試儀系列可方便隔離問題字節(jié)和碼型序列,然后使用七種厲害誤碼分析功能,進一步展開分析,提供前所有未的統(tǒng)計測量深度
?高達28.6 Gb/s 的碼型發(fā)生、誤碼分析和BER 測試能力
?經(jīng)校準的集成經(jīng)校準的集成壓力生成技術(shù),滿足多種標準壓力接收機靈敏度和時鐘恢復抖動容限測試要求
?擴展頻譜時鐘
?PCIe 2.0和3.0接收機測試
?IEEE 802.3ba和32G光纖通道測試
?碼型生成和誤碼分析、高達28.6 Gb/秒的高速BER測量
?集成的壓力發(fā)生器用于受壓眼圖靈敏度(SRS)和抖動容限一致性測試
?集成的BER關(guān)聯(lián)眼圖分析,并提供 PCI Express、USB、SATA和其他通信標準的通過/不通過模板
?在PRBS 31及高達28.6 Gb/秒的其它數(shù)字信號上進行誤碼定位和BER輪廓分析
?選配抖動分離及定位功能可以在 DUT 輸入上快速進行抖動分解,準確進行壓力校準
?可選的數(shù)字預加重處理器在碼型發(fā)生器提供的數(shù)據(jù)上提供用戶控制的預加重
?可選的時鐘恢復單元提供很大 28.6 Gb/s 的時鐘恢復

美國Tektronix(泰克) BSA175C誤碼率測試儀產(chǎn)品特點:
?在一臺儀器中同時提供生成和分析功能,為當今的第三代串行和IEEE802.3ba、32GFC通信標準提供接收機BER一致性測試
?測試信號的數(shù)據(jù)速率、應(yīng)用的壓力和數(shù)據(jù)碼型都可以隨時更改且彼此獨立,允許多種信號變化來測試芯片組/系統(tǒng)靈敏度
?與其它BERT不同,提供熟悉的測試結(jié)果眼圖,并與標準特定的模板進行對比,增強調(diào)試體驗
?通過BER迅速了解信號完整性。誤碼定位提供了詳細的BER碼型靈敏度,加快了確定性與隨機性 BER 誤碼的識別
?用三角測量法快速有效地確定長碼型 PRBS31 抖動結(jié)構(gòu)圖形表示讓抖動分析更**、跟進更簡單
?可以使用PCI Express、10GBASE-KR、SATA、40GBASE-KR4、100GBASE-CAUI標準信號進行測試
?根據(jù)高速串行和通信系統(tǒng)標準,進行一致性測試及準確的眼圖分析
?抖動裕量(Margin)測試、抖動容限一致性模板測試
?快速輸入上升時間/高輸入帶寬錯誤檢測器,準確分析信號完整性
?物理層測試套件,支持模板測試、抖動峰值、BER輪廓和Q因子分析,使用標準或用戶自定義抖動容限模板庫進行全方位測試
?集成的眼圖和BER相關(guān)分析
?專有的誤碼定位分析技術(shù),迅速了解BER性能限制,評估確定性誤碼與隨機性誤碼
?執(zhí)行詳細的碼型相關(guān)誤碼分析,執(zhí)行誤碼突發(fā)分析或無誤碼間隔分析

美國Tektronix(泰克) BSA175C誤碼率測試儀產(chǎn)品應(yīng)用:
?設(shè)計驗證包括信號完整性、抖動和時序分析
?對高速串行系統(tǒng)、復雜設(shè)計的性能測試
?串行數(shù)據(jù)流和高性能網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)認證測試
?設(shè)計/ 驗證高速I/O 組件和系統(tǒng)
?信號完整性分析- 模板、峰值抖動、BER 輪廓、抖動分離及定位(Jitter Map)和Q因子分析
?設(shè)計/ 驗證光發(fā)射接收機 



我們會努力按照原廠技術(shù)參數(shù)翻譯編輯,如技術(shù)參數(shù)中英文有差異,以英文參數(shù)為準。

美國Tektronix(泰克) BSA175C誤碼率測試儀技術(shù)參數(shù):



特性 說明
數(shù)據(jù)輸出 數(shù)據(jù)率范圍
BSA85C 0.1-8.5 Gb/s
BSA125C 0.1-12.5 Gb/s
BSA175C 0.5-17.5 Gb/s
BSA260C 1-26 Gb/s
BSA286C 1-28.6Gb/s
碼型格式 NRZ
很性 正?;蚍聪?
可變交叉點電平范圍 25 to 75%
碼型
硬件碼型 工業(yè)標準的PRBS碼型: 2n – 1 where n = 7, 11, 15, 20, 23, 31
RAM 碼型

BSA85C
BSA125C
BSA175C
BSA260C
BSA286C

128位~128Mb
每個A/B 頁面中A 或B各有32Mb,共兩組A/B 頁面。單頁面很大128Mb
碼型數(shù)據(jù)庫 基于K28.5 或CJTPAT 碼型的SONET/SDH, Fibre Channel 碼型;
2n 碼型,n=3,4,5,6,7,9; 2n標記密度碼型, n=7,9,23;其他
誤碼插入
長度 1,2,4,8,16,32,64 長度突發(fā)序列
頻率 單詞或者重復
數(shù)據(jù) 時鐘 幅度 配置 差分輸出,差分每一路可獨立設(shè)置端接、幅度和偏置
接口 DC 耦合,50 歐姆反向端接。APC-3.5 連接器
可選校準到75歐姆端接,其他阻抗通過面板輸入
可更換的Planar Crown適配器,可換為其他類型連接器
預設(shè)邏輯電平 LVPECL, LVDS, LVTTL, CML, ECL, SCFL
端接電壓

–2V ~ 2V

預設(shè)值:1.5V,1.3V,1.0V,-2V,AC 耦合

允許的幅度、端接和偏置電壓
時鐘/數(shù)據(jù)延遲 范圍 (以下情況全部大于1比特周期)
≤ 1.1GHz 30ns
> 1.1GHz 3ns
分辨率 100fs
自校率 在時間測量時,當溫度或者比特率改變,推薦進行儀器自校準,校準過程小于10s
外部時鐘輸入 頻率范圍
BSA85C 0.1 to 8.5GHz
BSA125C 0.1 to 12.5GHz
BSA175C 0.5 to 17.5GHz
BSA260C 1 to 26GHz
BSA286C 1 to 28.6GHz
定額功率 900mVpp (+3dBm)
很大功率 2.0Vpp (+10dBm)
回波損耗 優(yōu)于 –6dB
接口 50 歐姆SMA 母頭,DC 耦合,可選的端機電壓
子速率
時鐘輸出
頻率范圍 0.125到3.125GHz(STR 選項可到12.5GHz)
幅度范圍 額定電壓1Vp-p,偏置0V
跳變時間 <500ps
接口 SMA 母頭, 50 歐姆, DC 耦合, 端接電壓0V
觸發(fā)輸出 很小脈沖寬度

128 個時鐘周期(模式1)
512 個時鐘周期(模式2)

跳變時間 <500ps
抖動(p-p,數(shù)據(jù)到觸發(fā)) <10ps, 典型值(BSA175C、 BSA260C和 BSA286C)
輸出幅度 >300mVp-p,偏置 650mV
接口 50歐姆 SMA 母頭
碼型啟動輸入 邏輯電平 LVTTL (<0.5V 低, >2.5V 高)
門限電平 +1.2V 典型值
很大非損傷輸入電壓范圍 –0.5V to +5.0V
很小脈沖寬度 128 連續(xù)時鐘周期
很大重復率 512 連續(xù)時鐘周期
接口 SMA 母頭, >1K 歐姆阻抗,端接到0V
美國Tektronix(泰克) PED3201誤碼檢測器


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