日本進(jìn)口KJTD相控陣超聲波探傷儀FlashFocus
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產(chǎn)品名稱:
日本進(jìn)口KJTD相控陣超聲波探傷儀FlashFocus
產(chǎn)品型號(hào):
KJTD FlashFocus
產(chǎn)品展商:
其它品牌
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簡(jiǎn)單介紹
日本進(jìn)口KJTD相控陣超聲波探傷儀FlashFocus128通道并行驅(qū)動(dòng)型高速相控陣探傷系統(tǒng)現(xiàn)已上市！在過去很難進(jìn)行瑕疵檢測(cè)的特殊環(huán)境中以及需要瑕疵檢測(cè)速度的特殊環(huán)境中，F(xiàn)lash Focus與超聲波瑕疵檢測(cè)兼容。高速，高精度探傷支持所需的高質(zhì)量保證。
日本進(jìn)口KJTD相控陣超聲波探傷儀FlashFocus 的詳細(xì)介紹
日本進(jìn)口KJTD相控陣超聲波探傷儀FlashFocus
Flash Focus基本規(guī)格
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模組
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傳輸脈沖類型
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方波脈沖（40 ns至1μs，10 ns步進(jìn)）
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發(fā)射脈沖電源電壓
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12、48、96伏
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硬件過濾器
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0.5-10 MHz高通濾波器
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硬件掃描存儲(chǔ)器
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高達(dá)8,000點(diǎn)
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日本進(jìn)口KJTD相控陣超聲波探傷儀FlashFocusHW B掃描存儲(chǔ)器
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膏32,000點(diǎn)（自動(dòng)壓縮）至62K點(diǎn)（可選）
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波形顯示
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全波，RF波
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頻帶
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0.25-10兆赫
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增益設(shè)定
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0至80 dB 0.1 dB步長(zhǎng)（大值取決于同時(shí)激發(fā)的數(shù)量）
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可用元素?cái)?shù)
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128
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同時(shí)激發(fā)數(shù)
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多128
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循環(huán)數(shù)
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高達(dá)512
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重復(fù)頻率（PRF）
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?43 kHz（小23 μs）
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采樣頻率
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50 MHz / 10位
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DAC功能
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膏14分
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電源電壓
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交流85?265 V
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軟件
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日本進(jìn)口KJTD相控陣超聲波探傷儀FlashFocus兼容探頭
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扁平，聚焦，環(huán)形矩陣探頭，TRL矩陣探頭
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聚焦方式
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深度位置，光路，底部參考深度位置，散焦（擴(kuò)散）（僅用于體積聚焦傳輸）
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延遲模式
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延遲范圍0至40.94 μs DDF，多14點(diǎn)
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顯示范圍
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A，B，C，D，S范圍
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聲速設(shè)定
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100-10000米/秒
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瞄準(zhǔn)鏡
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中頻門跟蹤功能
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軟件收益
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記錄數(shù)據(jù)的增益增加功能
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特征
多可并行驅(qū)動(dòng)128個(gè)元件
通過增加同時(shí)使用的元件數(shù)量，提高了光束聚焦能力，并且還增加了掃描圖案。
線性掃描
部門掃描
區(qū)域重點(diǎn)
動(dòng)態(tài)深度聚焦
日本進(jìn)口KJTD相控陣超聲波探傷儀FlashFocus體積聚焦技術(shù)（磚立3704065）
鑫的相控陣技術(shù)可實(shí)現(xiàn)高速，高分辨率的缺陷檢測(cè)。
可以使用各種探針檢測(cè)缺陷
除了普通的線性探針，我們還使用矩陣探針和細(xì)間距探傷實(shí)現(xiàn)了更細(xì)的束斑尺寸。通過使用不同的探針可以在各種情況下進(jìn)行檢查。
線性探針
年度矩陣探測(cè)
方陣探頭
體積聚焦技術(shù)是我公司開發(fā)的相控陣超聲探傷技術(shù)（磚立3704065）。常規(guī)的相控陣掃描方法如下。
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對(duì)于線性或扇形掃描，將發(fā)射光束指向一個(gè)方向，并且焦點(diǎn)位于軸的中心
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DDF或區(qū)域焦點(diǎn)一次聚焦在一個(gè)點(diǎn)上，然后繼續(xù)沿光束移動(dòng)
另一方面，體積聚焦是一種可以立即掃描整個(gè)橫截面（例如樣品體積）的新方法。通過同時(shí)激發(fā)所有元素來創(chuàng)建一個(gè)不分散的平面波。
每個(gè)平行的元素都從底面，夾雜物，缺陷等處接收反射的脈沖能量。然后，并行數(shù)字硬件處理實(shí)時(shí)創(chuàng)建B掃描和C掃描。
從概念上講，體積焦點(diǎn)類似于DDF，但體積焦點(diǎn)可以覆蓋所有橫截面或體積，而不僅僅是沿深度軸。
日本進(jìn)口KJTD相控陣超聲波探傷儀FlashFocus
