日本進(jìn)口kett電磁膜厚計(jì)
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產(chǎn)品名稱:
日本進(jìn)口kett電磁膜厚計(jì)
產(chǎn)品型號(hào):
kett LE-200J
產(chǎn)品展商:
其它品牌
產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹
日本進(jìn)口kett電磁膜厚計(jì)內(nèi)置打印機(jī)的電磁膜測(cè)厚儀的**型號(hào)測(cè)量范圍0-1500μm小于15μm的測(cè)量精度：±0.3μm，15μm或更高：±2％數(shù)據(jù)存儲(chǔ)1500點(diǎn)，統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
日本進(jìn)口kett電磁膜厚計(jì) 的詳細(xì)介紹
日本進(jìn)口kett電磁膜厚計(jì)
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內(nèi)置打印機(jī)的電磁膜測(cè)厚儀的**型號(hào)
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測(cè)量范圍0-1500μm
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小于15μm的測(cè)量精度：±0.3μm，15μm或更高：±2％
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數(shù)據(jù)存儲(chǔ)1500點(diǎn)，統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
日本進(jìn)口kett電磁膜厚計(jì)主要規(guī)格
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測(cè)量方式
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電磁感應(yīng)式
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測(cè)量目標(biāo)
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磁性金屬上的非磁性涂層
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測(cè)量范圍
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0-1500μm或60.00密耳
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測(cè)量精度
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小于15μm：±0.3μm，15μm或以上：±2％
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解析度
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小于100μm：0.1μm，100μm或更大：1.0μm
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符合標(biāo)準(zhǔn)
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JIS K5600-1-7，JIS H8501，JIS H0401 / ISO 2808，ISO 2064，ISO 1460，ISO 2178，ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499，ASTM D 7091-5，ASTM E 376
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統(tǒng)計(jì)功能
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測(cè)量次數(shù)，平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差，大值，小值，程序段號(hào)
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探測(cè)
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單點(diǎn)接觸恒壓型（LEP-J）
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顯示方式
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日本進(jìn)口kett電磁膜厚計(jì)數(shù)字（LCD，小顯示位數(shù)0.1μm）
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外部輸出
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RS-232C接口（傳輸速度2400bps）
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電源供應(yīng)
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AC100V（50 / 60Hz）或電池1.5V（AA堿性）主機(jī)x 6，打印機(jī)x 4
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尺寸/質(zhì)量
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120（W）x 250（D）x 55（H）毫米，1.0公斤
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配件
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標(biāo)準(zhǔn)板，鐵座，標(biāo)準(zhǔn)板盒，電池1.5V（AA堿性），AC適配器，探針適配器，打印機(jī)紙，手提箱
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選項(xiàng)
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L型探頭（LEP-21L），RS-232C連接電纜，數(shù)據(jù)管理軟件“ Data Logger KLD-01”，“ McWAVE Lite”，“ McWAVE Standard”，“ McWAVE Professional”，“ MultiProp”
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日本進(jìn)口kett電磁膜厚計(jì)
