日本napson可定制手持式薄層電阻測量儀
DUORES手持式薄層電阻測量儀（2個探頭更換用[接觸式和非破壞性測量探頭]）
產(chǎn)品名稱：DUORES
產(chǎn)品圖片（可根據(jù)客戶要求進行各種定制）
產(chǎn)品特點
便于攜帶和測量的手持式薄層電阻測量裝置：DUORES
根據(jù)測量目標更換和使用兩種類型的探頭（無損型和接觸型）。
?*1臺可以替換和使用兩種類型的探頭（無損型和接觸型）的便攜式座椅電阻測量裝置 ?
只需放置/敲擊探頭即可自動進行測量
?電池連續(xù)工作時間：24小時（*電池）使用時）
?顯示的數(shù)據(jù)數(shù)量：多100（*從醉新數(shù)據(jù)顯示）
?存儲的數(shù)據(jù)數(shù)量：多50,000（*軟件顯示屏）
?測量數(shù)據(jù)傳輸功能：USB-Mini
?顯示：3種類型的顯示單元（Ω/□，S /□，n / m [金屬膜厚度轉(zhuǎn)換]）， 4位浮點少數(shù)點（0.000至9999）
*我們僅出售主體+非破壞性探頭，并且僅出售主體+接觸探頭。
測量規(guī)格
測量目標
薄膜，玻璃，紙材料等
通常，可以在測量范圍內(nèi)測量任何樣品。
?薄膜材料（ITO，TCO等）
?低電子玻璃
?碳納米管，石墨烯材料
?金屬材料（納米線，網(wǎng)格，網(wǎng)眼）
?其他
測量尺寸
不論尺寸和厚度如何均可測量
（*大于每個探頭的測量點尺寸）
<測量點>
?無損探棒（渦電流型）：φ25mm
?接觸式探頭（4種探頭類型）：9毫米
測量范圍
?無損探棒（渦電流法）：0.5 -200Ω/ sq
?接觸探棒（4探針法）：0.1 -4000Ω/ sq
日本napson可定制手持式薄層電阻測量儀
Model DUORES 手持式面電阻測試儀
Model DUORES 手持式面電阻測試儀可以容易更換使用非接觸式和接觸式兩種測試探頭
Model DUORES 手持式面電阻測試儀<NAPSON 原創(chuàng)的技術(shù)>
可替換手持式探頭支持兩種測試方式
（1）非接觸式探頭（渦電流測試法）
（2）接觸式探頭（四探針測試法）
探頭觸碰到樣品時就會自動開始測量
可以長達24小時的測量時間
*多顯示100組測量數(shù)據(jù)
*多儲存50,000組測試數(shù)據(jù)
可通過USB-MINI將測量數(shù)據(jù)導(dǎo)出
測量數(shù)據(jù)顯示4位數(shù)的浮動小數(shù)點
測試結(jié)果單位：Ω/sq，s/sq，n/m
任意樣品只要在測試范圍內(nèi)都可以進行測試。（如薄膜、玻璃、紙張等）
導(dǎo)電薄膜（ITO, TCO等）
LOW-E玻璃
碳納米管，石墨烯材料
金屬材質(zhì)（納米銀線，金屬網(wǎng)格，金屬薄膜）
其他材料
* 歡迎索取更詳細產(chǎn)品資料，歡迎測樣
樣品尺寸：
任意尺寸形狀樣品都可以測試（測試面積必須大于探頭面積）
DUORES日本napson可定制手持式薄層電阻測量儀
探頭類型
非接觸式探頭（渦電流測試法） 0.5 ~ 200 ohm/sq
接觸式探頭（四探針測試法） 0.001 ~ 4000 ohm/sq ≦±0.5%
*精度
0.5~100ohm/sq： ≦3.0%*重復(fù)性
100~200ohm/sq：≦5.0%*重復(fù)性
*重復(fù)性 : NAPSON標準片的測量重復(fù)性 (CV = STDEVP/AVG×100%)（出貨前即會校準）
*精度 : NAPSON標準電阻的測試精度（出貨前即會校準）
<尺寸>主機：W80(100) ×D210 ×H36 mm, 約350g，{*并不含電池重量在其中}
非接觸式探頭：W70(φ50) ×D20(φ50) ×H70 mm, 約170g
接觸式探頭：W40 ×D15 x H50 mm, 約85g
<電源>AC100~240V, 50/60Hz, DC9V 1A
DUORES日本napson可定制手持式薄層電阻測量儀
