EC-80日本napson緊湊手動非接觸式電阻測量儀
如果您對該產品感興趣的話,可以
產品名稱:
EC-80日本napson緊湊手動非接觸式電阻測量儀
產品型號:
napson EC-80
產品展商:
其它品牌
產品文檔:
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簡單介紹
日本napson緊湊手動非接觸式電阻測量儀
產品特點
一種簡單的測量儀器，只需在探針之間插入樣品即可進行測量
在電阻/薄層電阻測量模式之間輕松切換
使用JOG撥盤輕松設置測量條件
*由于探頭是固定的，因此您可以在購買前從幾種探頭中選擇一種。
EC-80日本napson緊湊手動非接觸式電阻測量儀 的詳細介紹
日本napson緊湊手動非接觸式電阻測量儀
測量規(guī)格
測量目標
半導體/太陽能電池材料相關（硅，多晶硅，SiC等）
新材料/功能材料相關（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
導電薄膜相關（金屬，ITO等）
硅基外延，離子與
半導體相關的注入樣品化合物（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）
其他（*請與我們聯(lián)系）
EC-80日本napson緊湊手動非接觸式電阻測量儀測量尺寸
?8英寸，或?156x156mm
EC-80日本napson緊湊手動非接觸式電阻測量儀測量范圍
[電阻] 1m至200Ω·cm
（*所有探頭類型的總范圍/厚度500um）
[抗頁電阻] 10m至3kΩ / sq
（*所有探頭類型的總范圍）
*有關每種探頭類型的測量范圍，請參閱以下內容。
（1）低：0.01至0.5Ω/□（0.001至0.05Ω-cm）
（2）中：0.5至10Ω/□（0.05至0.5Ω-cm）
（3 ））高：10至1000Ω/□（0.5至60Ω-cm）
（4）S高：1000至3000Ω/□（60至200Ω-cm）
測量規(guī)格
EC-80日本napson緊湊手動非接觸式電阻測量儀測量目標
半導體/太陽能電池材料相關（硅，多晶硅，SiC等）
新材料/功能材料相關（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
導電薄膜相關（金屬，ITO等）
硅基外延，離子與
半導體相關的注入樣品化合物（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）
其他（*請與我們聯(lián)系）
測量尺寸
?8英寸，或?156x156mm
測量范圍
[電阻] 1m至200Ω·cm
（*所有探頭類型的總范圍/厚度500um）
[抗頁電阻] 10m至3kΩ / sq
（*所有探頭類型的總范圍）
*有關每種探頭類型的測量范圍，請參閱以下內容。
（1）低：0.01至0.5Ω/□（0.001至0.05Ω-cm）
（2）中：0.5至10Ω/□（0.05至0.5Ω-cm）
（3 ））高：10至1000Ω/□（0.5至60Ω-cm）
（4）S高：1000至3000Ω/□（60至200Ω-cm）
日本napson緊湊手動非接觸式電阻測量儀
