日本napson手持式薄層電阻測(cè)量?jī)x器
?*1臺(tái)可以更換和使用兩種類型的探頭（無損型和接觸型）的便捷型薄層電阻測(cè)量裝置 ?
只需放置/使用探頭即可自動(dòng)進(jìn)行測(cè)量
?電池連續(xù)工作時(shí)間：24小時(shí)（*電池）使用時(shí)）
?顯示的數(shù)據(jù)數(shù)量：多100（*從醉新數(shù)據(jù)顯示）
?保存的數(shù)據(jù)數(shù)量：多50,000（*軟件顯示）
?測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸功能：USB-Mini
?顯示：3種類型的顯示單位（Ω/□，S /□，n / m [金屬膜厚度轉(zhuǎn)換]）， 4位浮點(diǎn)少數(shù)點(diǎn)（0.000至9999）
*我們僅出售主體+非破壞性探頭，并且僅出售主體+接觸探頭。
日本napson手持式薄層電阻測(cè)量?jī)x器測(cè)量規(guī)格
測(cè)量目標(biāo)
薄膜，玻璃，紙材料等
通常，可以在測(cè)量范圍內(nèi)測(cè)量任何樣品。
?薄膜材料（ITO，TCO等）
?低電子玻璃
?碳納米管，石墨烯材料
?金屬材料（納米線，網(wǎng)格，網(wǎng)眼）
?其他
測(cè)量尺寸
不論尺寸和厚度如何均可測(cè)量
（*大于每個(gè)探頭的測(cè)量點(diǎn)尺寸）
<測(cè)量點(diǎn)>
?無損探棒（渦電流型）：φ25mm
?接觸式探頭（4種探頭類型）：9毫米
日本napson手持式薄層電阻測(cè)量?jī)x器測(cè)量范圍
?無損探棒（渦電流法）：0.5 -200Ω/ sq
?接觸探棒（4探法）：0.1 -4000Ω/ sq
?*1臺(tái)可以更換和使用兩種類型的探頭（無損型和接觸型）的便捷型薄層電阻測(cè)量裝置 ?
只需放置/使用探頭即可自動(dòng)進(jìn)行測(cè)量
?電池連續(xù)工作時(shí)間：24小時(shí)（*電池）使用時(shí)）
?顯示的數(shù)據(jù)數(shù)量：多100（*從醉新數(shù)據(jù)顯示）
?保存的數(shù)據(jù)數(shù)量：多50,000（*軟件顯示）
?測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸功能：USB-Mini
?顯示：3種類型的顯示單位（Ω/□，S /□，n / m [金屬膜厚度轉(zhuǎn)換]）， 4位浮點(diǎn)少數(shù)點(diǎn)（0.000至9999）
*我們僅出售主體+非破壞性探頭，并且僅出售主體+接觸探頭。
測(cè)量規(guī)格
測(cè)量目標(biāo)
日本napson手持式薄層電阻測(cè)量?jī)x器薄膜，玻璃，紙材料等
通常，可以在測(cè)量范圍內(nèi)測(cè)量任何樣品。
?薄膜材料（ITO，TCO等）
?低電子玻璃
?碳納米管，石墨烯材料
?金屬材料（納米線，網(wǎng)格，網(wǎng)眼）
?其他
日本napson手持式薄層電阻測(cè)量?jī)x器測(cè)量尺寸
不論尺寸和厚度如何均可測(cè)量
（*大于每個(gè)探頭的測(cè)量點(diǎn)尺寸）
<測(cè)量點(diǎn)>
?無損探棒（渦電流型）：φ25mm
?接觸式探頭（4種探頭類型）：9毫米
測(cè)量范圍
?無損探棒（渦電流法）：0.5 -200Ω/ sq
?接觸探棒（4探法）：0.1 -4000Ω/ sq
日本napson手持式薄層電阻測(cè)量?jī)x器
