ADEV鋁箔封口質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)
如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱:
ADEV鋁箔封口質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào):
鋁箔封口視覺檢測(cè)系統(tǒng)
產(chǎn)品展商:
其它品牌
產(chǎn)品文檔:
無相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
ADEV鋁箔封口質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)?
紅外攝像機(jī)拍攝熱封后的瓶口熱像，并將熱像傳輸?shù)綀D像處理系統(tǒng)進(jìn)行分析識(shí)別。對(duì)熱像圖的溫度分布進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，判斷工件的緊密性。不合格產(chǎn)品拒收，合格產(chǎn)品送下一道工序。
ADEV鋁箔封口質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng) 的詳細(xì)介紹
ADEV鋁箔封口質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)
紅外攝像機(jī)拍攝熱封后的瓶口熱像，并將熱像傳輸?shù)綀D像處理系統(tǒng)進(jìn)行分析識(shí)別。對(duì)熱像圖的溫度分布進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，判斷工件的緊密性。不合格產(chǎn)品拒收，合格產(chǎn)品送下一道工序。
ADEV鋁箔封口質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)
檢測(cè)速度:小于或等于18m/min(傳送帶)
灌裝形式:片劑、軟/硬膠囊、液體和粉末。
鋁箔封口視覺檢測(cè)系統(tǒng)適用于鋁箔形式:單張鋁箔、紙墊和鋁箔組成的組合墊。
適用的瓶子規(guī)格:瓶子直徑
適用瓶子規(guī)格:瓶蓋直徑20mm ~ 200mm；封面形狀:圓形，封面結(jié)構(gòu):CT/OCR；封面顏色:黑色除外。
安裝位置:生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)電磁感應(yīng)/熱封機(jī)后0.2-2米范圍內(nèi)。
鋁箔包裝的氣密性是保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要因素。但在用鋁箔密封產(chǎn)品的過程中，經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)密封不嚴(yán)、漏液等情況，而這種微小的鋁箔漏液、漏液缺陷，肉眼很難識(shí)別。鋁箔封口不嚴(yán)會(huì)使產(chǎn)品變質(zhì)，不僅影響消費(fèi)者的身體健康，還會(huì)造成巨大的經(jīng)濟(jì)損失。有必要測(cè)試鋁箔包裝的密封性。
鋁箔封口視覺檢測(cè)系統(tǒng)
鋁箔封口視覺檢測(cè)系統(tǒng)[鋁箔表面缺陷的類型]
劃痕、雜質(zhì)、劃痕、擦傷、凸起、凹坑)以及針孔和孔洞檢測(cè)。
鋁箔封口視覺檢測(cè)系統(tǒng)[技術(shù)指標(biāo)]
適應(yīng)速度:0～300米/分鐘
適應(yīng)厚度:5 ~ 5000 μ m。
[檢測(cè)方法]
正/負(fù)檢測(cè)，可根據(jù)企業(yè)客戶的產(chǎn)品特點(diǎn)選擇一個(gè)工位或多個(gè)工位。鋁箔表面檢查和鋁箔針孔檢查的拋光方法不同。前拋光用于鋁箔表面缺陷檢查，后拋光用于鋁箔針孔檢查。
ADEV鋁箔封口質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)[設(shè)備功能]
1.鋁箔表面缺陷檢測(cè)和針孔檢測(cè)系統(tǒng)采用高精度攝像頭，實(shí)現(xiàn)全幅在線自動(dòng)檢測(cè)，實(shí)時(shí)采集鋁箔卷上的缺陷信息，并進(jìn)行拍照、記錄和保存。真正實(shí)現(xiàn)全檢功能。
2.系統(tǒng)顯示諸如品種名稱、卷數(shù)、車速、卷長(zhǎng)、卷寬、缺陷數(shù)、周期性缺陷數(shù)、產(chǎn)品一致性等信息。實(shí)時(shí)地。此外，系統(tǒng)實(shí)時(shí)跟蹤車速、卷長(zhǎng)和寬度等信息，如果寬度超過設(shè)定值，可以自動(dòng)報(bào)警。
3.系統(tǒng)提供比例照片、位置信息、長(zhǎng)度、寬度、面積、類型、時(shí)間、周期等一系列相關(guān)信息。對(duì)于檢測(cè)到的表面缺陷。
4.系統(tǒng)對(duì)周期性缺陷提供實(shí)時(shí)報(bào)警，能夠準(zhǔn)確判斷周期性缺陷的來源(要求廠家提供生產(chǎn)線主要設(shè)備的周長(zhǎng)數(shù)據(jù))，方便客戶盡早定位故障部位。
5.系統(tǒng)根據(jù)日期、時(shí)間和卷數(shù)存儲(chǔ)和統(tǒng)計(jì)缺陷數(shù)據(jù)，并生成缺陷報(bào)告，可根據(jù)客戶要求隨時(shí)打印。缺陷數(shù)據(jù)記錄可保存一年以上。
6.該系統(tǒng)可以配合貼標(biāo)機(jī)實(shí)時(shí)定位缺陷，便于對(duì)嚴(yán)重缺陷進(jìn)行標(biāo)記。
7.該系統(tǒng)是基于Windows平臺(tái)的全中文檢測(cè)軟件。
總結(jié):ADEV提供的鋁箔表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)備可以為醫(yī)藥包裝企業(yè)提供專用檢測(cè)設(shè)備的定制服務(wù)。需要或想合作鋁箔表面檢驗(yàn)和針孔檢驗(yàn)的客戶可以直接聯(lián)系我們。
更多ADEV鋁箔封口質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)鋁箔封口視覺檢測(cè)系統(tǒng)信息請(qǐng)直接致電埃登威上海13482246053
